Unidad de microscopía electrónica de barrido
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- Unidad de microscopía electrónica de barrido
Información General
La Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) junto con el Microanálisis por Energía Dispersiva (EDS) son herramientas básicas que permiten la caracterización morfológica, microestructural y de composición química de superficies sólidas. Se obtienen imágenes de diferente resolución mediante la interacción de un haz de electrones con la superficie de una muestra. Los distintos detectores permiten analizar las partículas emitidas por el material en estudio.
Tiene áreas de aplicación tan variadas como el control de calidad durante la fabricación de materiales, estudios de procesos de difusión, de corrosión o de caracterización de contaminantes ambientales, patrimonio histórico y restauración, geología, etc.
Instrumental disponible
1.- Microscopio Electrónico de Barrido de alta Resolución (FESEM) FEI TENEO LoVac.
Es un microscopio de emisión de campo (FESEM) con cátodo tipo Schottky que combina capacidades de alta resolución con alto y bajo potencial, así como con un modo de vacío por compensación de la carga en materiales no conductores (LV,10-50Pa).
Detectores:
- SE convencional (Everthart-Thornley).
- BSE segmentado en cuatro anillos que permite la detección separada de electrones emitidos en diferentes ángulos.
- Dos detectores “in-lens” (T1 y T2). Permiten obtener imágenes de alta resolución a cortas distancias de trabajo (2 mm).
- STEM segmentado con ocho canales individuales. Permite obtener imágenes de transmisión en campo claro, campo oscuro y campo oscuro de alto ángulo (HAADF).
- Detector EDS (Energy Dispersive Spectrometer) tipo SDD para microanálisis. Permite análisis puntual, área seleccionada, líneas y mapping.
Cámara de muestras de grandes dimensiones y muy versátil. La pletina soporta muestras de hasta 2 kg de peso, y permite movimientos de X=Y= 110 mm, Z= 65 mm, T= -15º y 90º y R= 360º.
Pletina portamuestras con soporte multiuso que permite:
- La carga simultánea de 18 muestras (stubs de 12mm) en posición horizontal y 3 inclinadas 45º.
- Una pinza abrazadera para el montaje de secciones transversales.
- Dos barras que permiten el montaje de hasta 6 rejillas de TEM en horizontal e inclinadas 52º.
2.- Microscopio Electrónico de Barrido convencional XL-30 Philips.
Tipo de cañón: emisión termoiónica.
Filamento: Tungsteno.
Voltaje de aceleración: de 0.2 a 30 kV.
Corriente: de 4 pA a 20 nA.
Detectores:
E. Secundarios
E. Retrodispersados. (Configurable por el usuario)
EDAX SUTW Si(Li)
3. Metalizador Sputter Coater Leica EM ACE200
Para recubrimientos de Au y C
- Servicios ofertados en esta unidad
Los servicios ofertados en esta unidad son enumerados a continuación:
- XL-30, facturado por hora.
- TENEO, facturado por hora.
- Metalizadora de oro, facturado por Recubrimiento (caben 6 muestras)
- Preparación de muestras, facturado por muestra. También incluye una serie de fungibles que se emplean en las preparaciones.
- Procedimiento de Gestión de Trabajos en SEM
Aquí puede descargar y consultar las Normas de uso del SEM Y EL FE-SEM
1. El usuario una vez que ha sido dado de alta en el CAI, realiza la petición de servicio empleando el botón Solicitar y accediendo a nuestro programa de gestión.
2. El Técnico de Laboratorio (TL) lee la petición, y realiza una estimación del trabajo requerido, y un primer presupuesto de acuerdo con la tabla de servicios ofertados en esta unidad.
3. Este presupuesto se envía al peticionario del servicio.
4. El usuario ha de aprobar el presupuesto.
5. TL realiza el trabajo. Una vez acabado, se lo comunica al responsable administrativo del CAI para que proceda a la facturación, y la administración del CAI realiza la facturación.
6. El TL envía los resultados al peticionario.
Datos de contacto:
Correo electrónico: cmoral@ing.uc3m.es
Teléfono: 91624 6247
Equipo de Trabajo
Responsable científico:
Dr. Alejandro Várez Álvarez
Técnico:
Dra. Cristina Moral Gil
Imagen de bacterias sobre recubrimientos solgel después de un test de adhesión in vitro
